研磨和抛光配件

研磨和抛光配件

使用合适的配件让您每次都可得到最佳的研磨和抛光效果及可靠高效的结果。

Struers 提供各种试样夹,可用于夹持 3 个或更多镶样或未镶样的试样。可以夹持各种形状的试样。如果要制备单个试样,则有各种试样移动盘可用。

在我们的计划中,可以找到使用双重夹持原理设计的轻型铝制试样夹。一个螺丝固定两个样品。该功能能够实现更快的夹持速度,在大多数情况下还能提高试样夹的性能。

调平设备可以调平直径为 140、160 和 200 毫米的试样夹中的试样,还有各种类型的储物柜,以便简单安全地存放研磨盘和抛光布

试样夹

试样夹

试样夹使用各种形状和尺寸的未镶样或镶样试样。

  • 试样夹的直径为 140、160 和 200 毫米。
  • 不锈钢或轻质铝制试样夹。
  • 双重夹持以提高性能。
  • 同时可以夹持最多 12 个试样。
  • 可以调整孔直径,灵活性更强。
  • 通过简单、快速夹持节约宝贵的时间。

试样移动盘

试样移动盘

如果要制备单个试样,则有各种试样移动盘可用。

  • 由不锈钢制成
  • 适用于 3-6 个样品
  • 适用于无孔 Accustop

带有内圈的 MD-Disc

带有内圈的 MD-Disc

带有内圈的磁性制备盘。

  • 直径有 200、250、300 毫米。
  • 通过内圈可以轻松更换 MD-Disc

AccuStop

AccuStop

用于在 SiC 研磨纸上手动研磨单个金相试样的试样夹。

AccuStop 有两种尺寸:AccuStop 40 可以处理 40 毫米直径的试样,而 AccuStop 30 可以处理 30 毫米直径的试样。

在标准情况下,AccuStop 可用于这两种圆柱形样品,可通过 Flangeform 将法兰安装在试样橡胶环来实现快速固定。

Accustop T

AccuStop-T

AccuStop-T 是专为微电子行业的靶制备设计。

AccuStop-T 独有的倾斜功能可以同时到达试样靶平面中的多个点,例如多行锡球和 PCB 通孔。

AccuStop-T 试样夹可以在任何方向将样品倾斜 +/- 2 度。

Accumeter

AccuMeter

AccuMeter 测量站是专为与 AccuStop-T 配合使用而设计的。

  • 可以轻松测量倾斜角度,同时配有测量范围为 0-25 毫米,步长为 10 微米的千分尺。
  • 与 AccuStop 30 配合使用时极为有效。

镶件

TargetSystem - 镶件

与 ø40 毫米镶样杯配合使用的镶件,50 件
最大试样尺寸 35 x 20 毫米。

TargetSystem 平行试样夹

TargetSystem - 平行试样夹

用于平行抛光的适配器(可重复使用)。
最大试样尺寸 23 x 23 毫米。

TargetSystem 样品座

TargetSystem - 样品座

适用于横截面的适配器(一次性)。
最大试样尺寸 27 x 20.5 毫米。50 件。

TargetGrip

TargetSystem - Target Grip

TargetGrip 是可倾斜样品夹。其可容纳直径长达 40 毫米的安装样品。用于大型样品的适配器,横截面和平行抛光以及 40 毫米到 25 毫米是适配器,可作为 SEM 底座。